EMI一致性測(cè)試好助手——泰克示波器
提起電磁干擾（EMI）這個(gè)詞，人們或許還感到陌生，但EMI的影響卻是幾乎每個(gè)人都曾身經(jīng)歷過的。例如，觀看電視時(shí)，附近有人使用電鉆、電吹風(fēng)等電器，會(huì)使電視畫面出現(xiàn)雪花點(diǎn)，所聲器里發(fā)出剌耳的噪聲……這類現(xiàn)象人們?cè)缫阉究找姂T、習(xí)以為常了，但是電磁干擾的危害卻遠(yuǎn)不止如此。事實(shí)上，電磁干擾已使民航系統(tǒng)失效、通信不暢、計(jì)算機(jī)運(yùn)行錯(cuò)誤、自控設(shè)備誤動(dòng)作等，甚至危及人身安全。因此，加強(qiáng)提高EMI抑制技術(shù)，已成為當(dāng)務(wù)之急，助您一次通過 EMI 一致性測(cè)試。
世界各地都已經(jīng)制訂了 EMI 法規(guī)，以便為電氣設(shè)備和電子設(shè)備用戶提供更好的可靠性和安全性。為了保證滿足這些法規(guī)，許多公司利用專門的測(cè)試機(jī)構(gòu)服務(wù)，來執(zhí)行 EMI 認(rèn)證要求的實(shí)際一致性測(cè)試。
許多公司采用專門測(cè)試機(jī)構(gòu)提供的服務(wù),來執(zhí)行EMI/EMC認(rèn)證要求的實(shí)際一致性測(cè)試,大多數(shù)工程師采用優(yōu)秀的設(shè)計(jì)慣例,較大限度地減少發(fā)生EMI/EMC問題的可能。即使有準(zhǔn)確的EMI/EMC仿真軟件,當(dāng)前在設(shè)計(jì)和原型階段通常仍要執(zhí)行“預(yù)一致性”測(cè)量,以在產(chǎn)品發(fā)出進(jìn)行一致性測(cè)試之前,識(shí)別和解決潛在的EMI/EMC問題。這些技術(shù)降低了產(chǎn)品在測(cè)試工作室進(jìn)行全面一致性測(cè)試時(shí)失敗的風(fēng)險(xiǎn)。愈加嚴(yán)格的EMI測(cè)試規(guī)范成為工程師在電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)中不可回避的問題:
高成本的第三方 EMI 測(cè)試
難進(jìn)行 EMI 整改的效果確認(rèn)
無法準(zhǔn)確定位 EMI 的信號(hào)來源
泰克針對(duì)以上的這些難題,整理了 EMI 的預(yù)一致性及整改方案，為工程師提供參考：
一、如何利用泰克示波器進(jìn)行干擾的查找
二、MDO4000系列混合域示波器典型應(yīng)用
1、嵌入式設(shè)計(jì) 在混合信號(hào)嵌入式系統(tǒng)上執(zhí)行系統(tǒng)級(jí)調(diào)試，迅速發(fā)現(xiàn)和解決問題，包括當(dāng)前常見的串行總線和無線技術(shù)。
2、功率設(shè)計(jì) 使用自動(dòng)功率質(zhì)量、開關(guān)損耗、諧波、紋波、調(diào)制和安全作業(yè)區(qū)測(cè)量，在經(jīng)濟(jì)的解決方案中提供廣泛的功率探頭選擇范圍，進(jìn)行可靠的、可重復(fù)的電壓、電流和功率測(cè)量。
3、EMI調(diào)試 確定哪些時(shí)域信號(hào)可能導(dǎo)致不想要的EMI，迅速追蹤嵌入式系統(tǒng)中的EMI來源。實(shí)時(shí)查看時(shí)域信號(hào)對(duì)系統(tǒng)EMI輻射的影響。
4、無線調(diào)試 在使用藍(lán)牙、802.11 WiFi、ZigBee或某些其他無線技術(shù)時(shí)，MDO4000C可以查看整個(gè)系統(tǒng)，包括模擬信號(hào)、數(shù)字信號(hào)和RF信號(hào)，而且在時(shí)間上同步，了解其真實(shí)特點(diǎn)。在一次捕獲中，捕獲超寬頻段，查看多種無線技術(shù)之間的交互，或查看現(xiàn)代標(biāo)準(zhǔn)（如802.11/ad）中的整個(gè)寬帶頻率范圍。
5、教育管理工作臺(tái)上的多臺(tái)儀器可能會(huì)非常麻煩。MDO4000C把六種儀器整合到一臺(tái)儀器中，不需要管理多臺(tái)儀器。集成頻譜分析儀可以講授高級(jí)無線技術(shù)課程，同時(shí)使要求的投資達(dá)到較小。全面升級(jí)能力可以在需求變化時(shí)或在預(yù)算允許時(shí)再增加功能。
6、制造測(cè)試和調(diào)試 規(guī)格和空間限制可能會(huì)給車間帶來巨大影響。獨(dú)一無二的六合一MDO4000C把多臺(tái)儀器整合到一臺(tái)小型儀器中，減少了機(jī)架或工作臺(tái)空間。整合降低了在制造測(cè)試或調(diào)試站中使用多種不同儀器的相關(guān)成本。
三、與競(jìng)品儀器對(duì)比：
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