頻譜儀自身的相噪是如何影響其相噪測試能力的呢？

　　曾經(jīng)有過這樣的困惑，頻譜分析儀如何有相噪聲指標，相噪聲不是信號源指標嗎？后來才明白，頻譜儀的相噪聲實際上是內(nèi)部LO信號的相噪聲，它決定了頻譜儀近端相噪聲的測試能力。頻譜儀本身的相噪聲越低，相噪聲測試能力就越強!

　　頻譜儀本身的相噪是如何影響其相噪測試能力的?

　　以下圖為例。假設(shè)RF信號是理想的，LO信號有一定的邊帶。在下變頻過程中，LO信號的邊帶除了將RF信號變頻到IF外，還將一起移動到IF。混頻器實際上起著乘法器的作用。RF信號乘以LO信號實現(xiàn)下變頻，也乘以LO信號邊帶中包含的頻率成分，使邊帶也變頻到IF附近。一些文獻稱之為易混頻，使LO信號的邊帶移動到IF。

　　近端相噪測試通常只關(guān)注1MHz頻偏范圍內(nèi)的相噪測試。考慮雙邊帶時，F(xiàn)CZ是相應(yīng)的±1MHz范圍內(nèi)的邊帶。對于混頻器，可以認為2MHz窄帶寬內(nèi)的變頻損耗是恒定的，這意味著IF信號的相噪與LO信號的相噪相同，如圖2所示!這種相噪是頻譜儀本身的相噪“底噪”，一般稱為相噪測試靈敏度，決定了頻譜儀的相噪測試能力。

　　當然，如果待測信號的相噪低于頻譜儀本身的相噪，則無法測量信號的真實相噪水平。在驗證頻譜儀相噪指標時，通常會選擇更好的相噪信號源，相噪測試結(jié)果可以反映頻譜儀本身的水平。

　　如果要準確測試信號的相噪聲，則要求頻譜儀本身的相噪聲比待測信號要好得多。根據(jù)經(jīng)驗，至少優(yōu)秀的10dB，以確保測試精度!

　　LO的相噪因交易混頻而移動到IF輸出信號

　　以上介紹了影響近端相噪聲測試能力的因素。隨著頻率偏差的增加，LO信號的相噪聲逐漸降低。此時，決定儀表相噪聲測試能力的因素可能不再是LO相噪聲，而是儀表的底噪聲。

　　如何判斷頻譜儀底部噪聲是否影響遠端相噪聲測試?

　　有兩種方法可以嘗試：

　　(1)降低信號功率，觀察遠端邊帶是否也隨之減少。如果沒有變化，說明底部噪聲確實影響遠端相噪聲測試;如果遠端邊帶也減少，說明底部噪聲影響不大。

　　(2)直接關(guān)閉信號，確保頻譜儀的其他設(shè)置保持不變，比較此時的底部噪聲和關(guān)閉信號前的遠端邊帶功率。如果底部噪聲低于遠端邊帶功率(建議超過10dB)，則對測試的影響較小;如果底部噪聲與遠端邊帶持平，則不可避免地會影響測試結(jié)果!

　　如果底部噪聲影響遠端相噪聲測試，如何解決?

　　信號功率可以在一定程度上增加，因為信號功率越高，邊帶功率也會增加，使其高于一定程度的底部噪聲，從而保證測試精度。但不能導(dǎo)致頻譜儀過載，否則會擾亂測試結(jié)果，必要時可使用陷波器抑制載波信號。或者選擇底部噪聲較低的頻譜儀進行測試!

　　以上內(nèi)容由安泰測試共享。如果您在選擇/測試過程中遇到任何問題，請咨詢安泰測試：http://nfrol.com