• 校準方便快捷，向導式操作流程
• 一體化多功能操作界面
• 大動態測量范圍，測量軌跡噪聲小
• 用戶數據自動移除，為在片測試提供擴展使用
• 單端-平衡光電器件模式測量
• 多功能化工具箱
• 內、外部光源波長設定，更寬的通信波長測試范圍

6433系列光波元件分析儀具備了電電、電光、光電、光光四種測量模式，功能模式之間可任意切換，滿足目前絕大多數通用器件的S參數、阻抗、時域等參數測量需求。

采用高精度和響應平坦的內部核心器件，結合設定不同的中頻帶寬值，可獲得更大的動態測量范圍和更小的軌跡噪聲，可以獲取測量結果的更多細節。

通過用戶自定數據或夾具去嵌入數據提升測量精度，尤其在片測試時所需的探針誤差移除時，使得測量更加靈活，滿足用戶不同場合的測量需求。

多功能化工具箱

內置大動態范圍光功率計，可實時監測輸入光功率數值，通過高級設置，可將光發射模塊設定為保偏激光源輸出模式（CW）模式，消光比大于20dB，為M-Z型LiNiO3調制器提供所需的保偏光源。

內、外部光源波長設定，更寬的通信波長測試范圍

測試不僅局限于1310nm/1550nm，支持1260nm~1630nm的外部光源輸入，覆蓋更寬的通信波長，滿足CWDM、DWDM系統核心器件測量需求。